約瑟夫· 約翰·湯遜
局部放電一般不會(huì)引起絕緣的穿透性擊穿，但是可以導(dǎo)致電介質(zhì)特別是有機(jī)電介質(zhì)的局部損壞。若局部放電長期存在則在一定條件下可能造成絕緣介質(zhì)電氣強(qiáng)度的降低。因此局部放電對絕緣設(shè)備的破壞是一個(gè)緩慢的發(fā)展過程，對于高壓電氣設(shè)備來說是一種隱患。局部放電的特性一般可與絕緣缺陷相互很好的印證，即根據(jù)局部放電特性可以確定電氣設(shè)備絕緣的局部損壞程度。在某種情況下絕緣的性能可以按某種最能說明問題的特性來判斷。而對于不同設(shè)備的絕緣，這些特性可能各不相同。在多數(shù)情況下綜合測量各種局部放電特性可以較客觀的評(píng)價(jià)產(chǎn)品的絕緣水平。
通常用湯遜理論和流注放電理論來描述絕緣系統(tǒng)內(nèi)部發(fā)生局部放電的機(jī)理：
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