由于超聲波對(duì)絕緣材料內(nèi)部放電不太敏感，小編在此只列出了其他三種典型絕緣缺陷下的局部放電超聲特性。
（1）懸浮電極放電缺陷
當(dāng)電力設(shè)備內(nèi)存在懸浮電位缺陷時(shí)，運(yùn)行情況下由于局部電場(chǎng)畸變可能會(huì)產(chǎn)生局部放電。利用超聲波傳感器測(cè)得的局放信號(hào)與外加的電壓信號(hào)具有明顯的關(guān)聯(lián)性，具體說來，在放電譜圖中存在典型的50Hz和100Hz相關(guān)性，且50Hz相關(guān)性小于100Hz相關(guān)性。此外，在特征指數(shù)檢測(cè)模式下，放電次數(shù)累積譜圖波峰位于整數(shù)特征值1處。下表為懸浮電位漏洞情況下超聲波診斷典型圖譜。
懸浮電位漏洞情況下超聲波診斷典型圖譜
（2）電暈缺陷
當(dāng)電力設(shè)備內(nèi)因制造、運(yùn)行、檢修等產(chǎn)生金屬尖刺時(shí)，在運(yùn)行情況下，由于尖刺周圍電場(chǎng)畸變會(huì)產(chǎn)生電暈放電信號(hào)。利用超聲波傳感器測(cè)得的局放信號(hào)與外加的電壓信號(hào)具有明顯的關(guān)聯(lián)性，具體說來，在放電譜圖中存在典型的50Hz和100Hz相關(guān)性，且50Hz相關(guān)性小于100Hz相關(guān)性。此外，在特征指數(shù)檢測(cè)模式下，放電次數(shù)累積譜圖波峰位于整數(shù)特征值2處。下表為電暈缺陷超聲波檢測(cè)典型圖譜。
電暈缺陷超聲波檢測(cè)典型圖譜
（3）自由金屬微粒缺陷
當(dāng)電力設(shè)備內(nèi)部有自由運(yùn)動(dòng)的金屬微粒時(shí)，電力設(shè)備運(yùn)行時(shí)金屬微粒會(huì)受到電場(chǎng)力和的作用，當(dāng)電場(chǎng)力大于地球引力時(shí)，金屬微粒會(huì)發(fā)生自由跳動(dòng)或移動(dòng)現(xiàn)象。但是，與電暈缺陷、懸浮電位缺陷不同，自由金屬微粒產(chǎn)生的超聲波信號(hào)與放電關(guān)聯(lián)較小，而主要由與電力設(shè)備的外殼碰撞引起。由于金屬微粒的跳躍高度決定了微粒與外殼的碰撞，二者的碰撞時(shí)刻也較為隨機(jī)，因此在開展局放超聲波檢測(cè)時(shí)，此缺陷不會(huì)表現(xiàn)出明顯的相位特征。但是，由于自由金屬微粒通過直接碰撞產(chǎn)生超聲波信號(hào)，因此其信號(hào)有效值及周期峰值往往較大。此外，在時(shí)域波形檢測(cè)模式下，檢測(cè)譜圖中可見明顯脈沖信號(hào)，但信號(hào)的周期性不明顯。當(dāng)存在自由金屬微粒缺陷時(shí)，超聲波檢測(cè)典型圖譜如下表所示。雖然自由金屬微粒缺陷無明顯相位聚集效應(yīng)。但是，當(dāng)統(tǒng)計(jì)自由金屬微粒與設(shè)備外殼的碰撞次數(shù)與時(shí)間的關(guān)系時(shí)，卻可發(fā)現(xiàn)明顯的譜圖特征。該譜圖定義為“飛行圖”，通過部分局部放電超聲波檢測(cè)儀提供的“脈沖檢測(cè)模式”即可觀察自由金屬微粒與外殼碰撞的“飛行圖”，進(jìn)而可以判斷出設(shè)備內(nèi)部是否存在自由金屬微粒缺陷現(xiàn)象。
自由金屬顆粒缺陷超聲波檢測(cè)典型圖譜
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